本報訊 4月15日,，浙江省寧波市計量院掃描電子顯微鏡（SEM）校準(zhǔn)裝置順利通過浙江省市場監(jiān)管局考核,，并正式取得社會公用計量標(biāo)準(zhǔn)證書。該社會公用計量標(biāo)準(zhǔn)的建立有效填補(bǔ)了浙江省在掃描電子顯微鏡量值傳遞與溯源能力上的空白,，將率先為企業(yè),、高校及科研院所在高精密儀器計量校準(zhǔn)領(lǐng)域提供精準(zhǔn)技術(shù)保障。
　　掃描電子顯微鏡作為納米級微觀形貌分析儀器,，是一種利用聚焦電子束掃描樣品表面,，通過檢測二次電子、背散射電子等信號生成高分辨率圖像的精密分析儀器,，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)（金屬斷裂面分析,、涂層結(jié)構(gòu)觀測）,、生命科學(xué)（細(xì)胞/組織超微結(jié)構(gòu)研究）、納米技術(shù)（納米顆粒形貌表征）,、工業(yè)檢測（芯片缺陷檢測,、產(chǎn)品質(zhì)量控制）及地質(zhì)考古（礦物成分分析、文物微觀結(jié)構(gòu)解析）等領(lǐng)域,，是現(xiàn)代科研與工業(yè)檢測不可或缺的跨學(xué)科分析工具,，其測量結(jié)果的準(zhǔn)確性直接影響到科研成果的可靠性和產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定性。
　　寧波市作為全國重要的制造業(yè)基地,，在新材料,、電子信息、生物醫(yī)藥等領(lǐng)域擁有眾多企業(yè),，在掃描電子顯微鏡的計量校準(zhǔn)方面具有較大的需求,。寧波市計量院立足院項目能力，集中優(yōu)勢資源,，攻克關(guān)鍵技術(shù)難題,，依據(jù)JJF 1033-2023《計量標(biāo)準(zhǔn)考核規(guī)范》和JJF 1916-2021《掃描電子顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范》的要求，成功建立掃描電子顯微鏡校準(zhǔn)裝置,。該裝置可對掃描電子顯微鏡的測長示值誤差、正交畸變,、線性失真度等關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行校準(zhǔn),，確保其測量結(jié)果的準(zhǔn)確可靠。

□王順杰 勞云云